粉体層せん断力測定装置 NS-Sシリーズ
原料粉体、中間製品の粉体物性(流動性、摩擦性、付着性)について、高精度で再現性のよい評価ができます。2016年にJIS規格(JIS-Z8835)に制定されて、評価方法として確立されました。応力下(圧密状態)での粉体物性評価の第一選択として最適な装置です。
*本装置の学術論文が「粉体工学会誌」に掲載されました。→公式ダウンロードサイトへ
*本装置の学術論文(英文)が「APT誌」に掲載されました。→公式ダウンロードサイトへ
力学的な粉体物性をトータルに評価できます。1回の測定で様々な粉体物性に関するパラメータ(内部摩擦角、圧縮率・応力緩和率・応力伝達率)が取得できますので、現場でのトラブルや今後の生産性改善の調査に使用できます。
粉体層せん断力測定装置データ収録ソフトウェア
データ解析ソフト
・わずか1ccの粉体量でも測定が可能です。貴重なサンプルも確実に回収できます。
・定荷重せん断試験、定容積せん断試験の2つの試験が1台の測定装置で実現できます。
・高精度な2軸直交せん断セルシステムが物性のわずかな違いも見逃しません。
・JIS-Z8835に準拠。粉体動摩擦角CSL、壁面摩擦角WYLの取得が容易にできます。
・壁面摩擦係数の測定であれば、200㎎から測定できます。
・医薬分野におけるスティッキング現象の評価にも利用できます。
・温度60℃、相対湿度90%RHまでの恒温恒湿槽内での測定も可能です。測定部全体での加温・加湿ができますので、サンプルに対して温度むらが発生しにくく、正確な測定ができます。
・製品の流動性を再現性よく測定できます。
・フィルムや金属表面などの固体表面との動的、静的摩擦力が測定できます。
・専用測定ソフトはWindowsに対応。ユーザーフレンドリーな操作で、誰でも簡単に測定ができます。
以下の評価に適しています
・電池材料の流動性評価
・トナーの流動性評価
・粉体の温度依存性評価
・応力緩和率の測定による付着性評価
・コーティング・表面改質剤の評価
・表面改質剤の適正な濃度検討
・原料粉末の品質管理・メーカー選択管理データ
特徴
電池、医薬品、化粧品などに用いられる粉体原料、中間製品の粉体物性 (動摩擦力、静摩擦力、流動性、付着性)について、高精度で再現性の良い測定ができます。
材料の圧縮特性評価、セラミックスや焼結材料の流動性評価、トナーの凝集特性評価(せん断力測定)、医薬品の造粒、打錠工程の評価にご利用できます。
圧密環境での流動性測定はせん断試験が最適!
様々な表面との摩擦特性が測定できます。
・回転法に比べて、圧倒的に少量のサンプル粉体で評価できます。粉体層1g~、壁面摩擦200㎎~測定できます。
・壁面(平面)との摩擦測定の際、相手となる素材を自由に選ぶことができます。
オプション
本システムは、お客様の仕様に沿えられますよう装置の改造や特別仕様の実験セルなどをご用意しております。
カスタマイズセル
各種内径セル(内径15・30・43mm)
本体とコントローラ間を接続する信号ケーブルは、ご希望の長さに調整できます。(5mまで)
基板-粉体間摩擦測定セル
搬送用アルミジュラルミンケース
従来の定荷重せん断試験も可能です。
縦荷重用校正治具
横荷重用校正治具
標準仕様(測定可能パラメータ一覧)
測定パラメータ | NS-S500 | NS-S300 | NS-S100 | |
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押込荷重 | ロードセル | 0 ~ 700N | 0 ~ 700N | ‐ |
せん断力 | ロードセル | 0 ~ 100N | 0 ~ 100N | 0 ~ 100N |
底面荷重 | ロードセル | 0 ~ 700N | - | 0 ~ 300N |
圧力伝達率 | セル壁面摩擦による圧力欠損 | 0 ~ 100% | - | - |
粉体層高さ | レーザー変位計 | 0 ~ 40mm | 0 ~ 40mm | 0 ~ 40mm |
せん断距離 | レーザー変位計 | 0 ~ 20mm | 0 ~ 20mm | - |
サンプル温度 | K型 組込型温度計 | 室温 ~ 150℃ | - | - |
標準付属品
NS-S500 | NS-S300 | NS-S100 |
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サンプル温調ヒーターシステム (室温~120℃) |
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標準サンプルセル (内径8/15/30/43mm)SUS製 |
標準サンプルセル (内径15/43mm)SUS製 |
標準サンプルセル (内径43mm)SUS製 |
温調サンプルセル (内径30/43mm)SUS製 |
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データ解析ソフトウェア (USBキー付) |
データ解析ソフトウェア (USBキー付) |
データ解析ソフトウェア (USBキー付) |
摩擦力測定ユニット | ||
摩擦力測定用標準基板セット | ||
ノートPC | ノートPC | ノートPC |
技術協力 : 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 高尾泰正 博士