研究開発力
ナノシーズは、粉体物性の測定に関して、2つの側面からの分析が重要であると考えています。
今までの研究開発では、測定できないと思っていた数ミクロンの粒子の粒子間付着力も精度良く測定できます。 製品の品質管理、粉体物性の数値化、製造工程の安定化（計測・管理された粉体物性の実現）などが可能です。
ソリューション事例
- 過剰な付着によるトラブル発生時の調査 (NS-C200、NS-F100)
- きわめて微小な差しかない流動性の差を検出 (NS-S)
- トナーの感光体に対する付着力の定量 (NS-C200、NS-F100)
- キャリヤとトナー間の付着力測定 (NS-C200、NS-F100)
- トナーの流動性の数値化 (NS-S)
- 粒子と平面板の付着力を測定し、付着トラブルの少ない平面板の選択 (NS-C200)
- 半導体や電子部品表面に付着する異物の付着力と洗浄性の関係 (NS-C200)
御社の開発ソリューションとして、是非、お役に立てれば幸いと考えております。
その他、お客様の付着に関する様々なトラブル、開発、管理に関して、最善の解決法、 測定法をご提案、実施（受託測定）を致します。
